產(chǎn)品用途：

 

CST-50沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口檢測(cè)要求而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的，是用于檢測(cè)沖擊試樣缺口制作是否合格的重要設(shè)備。

利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U型和V型缺口與投影儀上的標(biāo)準(zhǔn)板圖進(jìn)行對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格，該設(shè)備操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過(guò)程中必備的檢測(cè)設(shè)備。